日本BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2
日本BETHEL热分析仪器热传导检查设备TSI2
产品价格:¥1.00(人民币)
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    商品详情

      热传导检查设备TSI2可以通过热将空隙、裂纹等产品或材料的缺隙可视化。

      热传导检查设备TSI2优势:

      1. 具备激光加热功能;

      2. 宏观摄影光学系(分辨率约20μm);

      3. 高性能红外照相机(7.5μm~13.5μm);

      4. 独立的减噪技术;

      5. 操作简单,打开盖子将样品放置到指定位置就可以进行测量;

      热传导检查设备TSI2可以对树脂、玻璃、陶瓷、金属等的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性等进行测量分析;

       主要规格


      TSI-2

       基本性能

       测量对象

        样品的缺陷、不均匀性、红外线放射亮度、简易温度、热特性

       输出数据

        频率、距离、振幅、位相、亮度、图像数据

       解析模式

        点?范围解析、位相解析

       其它配件

        温度调制加热器、控制解析软件、PC

       测量环境

       温度

        RT~250[℃]

       测量频率

        0.1~10[Hz]

       红外照相机

       元件数量

        336×256

       元件的种类

        VOx Microbolometer

       像素

        17[μm]

       观察波长范围

        7.5~13.5[μm]

       帧延迟

        30[Hz]

       分辨率

        About 30[μm]

       半导体激光

      (连续振荡)

       波长

        808[nm]

       最大输出功率

        5[W]

       正弦波调制

        0.1~30[Hz]

       平台可动范围

       水平(XY轴) 方向

        ±15[mm]

       垂直(Z轴) 方向

        +50[mm]

       电源

        AC100-240[V], 10-5[A], 50/60[Hz]

       使用环境

       温度

        2030(℃)

       湿度

        2080(%)

       保管环境

       温度

        050(℃)

       湿度

        2080(%)

       设备本体

       外形尺寸

        W552 × D602 × H657[mm]

       重量

        76.5[kg]

       激光安全标准

        CLASS1, IEC/EN 60825-1:2007


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